錫石是錫的主要礦石礦物，其氧同位素是追蹤成礦流體起源和演化的有前途的代理，這需要精確和準確的氧同位素分析。二次離子質譜 (SIMS) 是氧同位素分析的強大工具，尤其是當樣品具有復雜的結構時，但基質匹配的參考材料對于準確的微量分析至關重要。用于錫石氧同位素分析的唯一可用的基體匹配參考物質是永德-Cst，并且需要更多的參考物質。在這里，我們報告 Piaotang-Cst 作為錫石氧同位素微量分析的潛在工作參考材料。我們廣泛的 SIMS 微量分析證實，飄糖-Cst 相對均質，平均兩個標準差 (2SD) 為 0.49‰ (?n??= 626)。?通過常規氟化同位素比質譜儀測定，飄堂-Cst的δ?18?O?VSMOW值為5.33±0.07‰（2SD，?n =5）。我們還證明，錫石氧同位素微量分析中不存在因微量元素含量變化而引起的可測量的基體效應。我們建議 Piaotang-Cst 可用作監測 SIMS 分析的外部再現性和準確性的工作參考材料。